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中国科学院上海应用物理研究所专利:一种用于低能重离子的束团参数测量系统,以及一种频率谐振选能能量测量方法
中国科学院上海应用物理研究所专利:一种电子束低温发热测量系统
为了实现激光在放大器多程放大及靶面高指向精度,介绍了高效准分子激光系统多路光束自动准直技术的研究工作。提出利用双叉丝阵列像传递光路,分别在输入光路和输出光路上设置叉丝阵列作为近远场基准,解决了光路中无天然准直基准及多路并行准直等问题。搭建了预放大器II的三路双程激光自动准直系统,验证了该方法的可行性,并利用成像系统和反馈控制结构实现了自动准直系统的联调实验。
介绍了清华大学研制的相对论电子束(4~10MeV)真实发射度的测量系统,利用该系统测量了4MeV驻波电子直线加速器的真实发射度,并且研究了该系统的测量误差和测量范围,实践表明,磁扫描方法测量发射度是切实可行的。
科技日报2004年12月10日讯 最近,美国科学家发明了一种能同时聚焦离子束(通常为带正电荷的阳离子)和电子束的新系统,将离子束技术的运用范围和效率又往前推进了一步。聚焦的离子束在半导体行业有着重要作用,可用来切割纳米级结构,对光刻技术中的屏蔽板进行修补,分离和分析集成电路的各个元件,激活由特殊原子组成的材料,使其具有导电性等等。

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